|
1 |
Katı ve anorganik maddelerin genel sınıflandırılmaları, kristalin ve amorf katılar, kristalin katıların genel özellikleri
|
|
2 |
Kristal örgü tipleri, birim hücre parametreleri, özel birim hücre tipleri, perovskitler, spinel yapılar
|
|
3 |
Kristal örgü noktaları, kristal düzelemleri ve Miller indisleri
|
|
4 |
Miller indisleri ile birim hücre boyutları arasındaki ilişki, XRD yöntemlerinin genel açıklaması
|
|
5 |
X-ışınlarının genel özellikleri ve üretilmeleri, x-ışını çeşitleri, x-ışınlarının kristal düzlemlerinden difraksiyonu
|
|
6 |
Katı maddelerin x-ışınları difraksiyon yöntemi ile karakterize edilmeleri, birim hücre tipinin belirlenmnesi, birim hücre sabitlerinin hesaplanması ve faz analizleri, madenlerin kalitatif analizleri
|
|
7 |
Diğer x-şınları yöntemleri: XAS, XFS ve XAES yöntemleri ile yapılan kalitatif ve kantitatif karakterizasyonlar
|
|
8 |
ARA SINAV
|
|
9 |
Diferansiyel Termal Analiz ve Termal Gravimetri (DTA/TG) yöntemi
|
|
10 |
DTA/TG yöntemi ile yapılan karakterizasyonlar, örnek DTA/TG grafiklerinin ölçülmesi, değerlendirilmesi ve yorumlanmaları
|
|
11 |
Katı anorganik maddelerin mikroyapısal özellikleri: Tanecik boyutları, porözlük, densifikasyon, tanecikler arası bağlanmalar (grain bağlanmaları)
|
|
12 |
Taramalı elektron mikroskobu (SEM) yönteminin genel özellikleri, sistemin genel çalışma mekanizması
|
|
13 |
SEM yöntemi ile mikroyapısal özelliklerin karakterize edilmesi
|
|
14 |
UV-VIS spektroskobisi ile yapılan bazı karakterizasyonlar
|
|
15 |
YARI YIL SONU SINAVI
|
|
16 |
|
|
17 |
|
|
18 |
|
|
19 |
|
|
20 |
|