Ön koşul dersleri
|
Yok
|
Eğitimin dili
|
Türkçe
|
Koordinatör
|
|
Dersi veren öğretim eleman(lar)ı
|
PROF. DR. MEHMET AKKURT
|
Yardımcı öğretim eleman(lar)ı
|
-
|
Dersin veriliş şekli
|
Yüz yüze
|
Dersin amacı
|
X-Işınları kristalografisinin temellerini öğrenmek
|
Dersin tanımı
|
X-Işınlarının özellikleri, kristal geometrisi, kırınıma uğramış demetlerin doğrultuları, kırınıma uğramış demetlerin şiddetleri, Laue ve toz yöntemleri, tek kristallerin yönlendirilmesi, kübik kristallerin desenlerinin indislenmesi, hassas parametre ölçümleri, gerilme ölçülmesi
|
1- |
X-Işınlarının özellikleri, kristal geometrisi
|
2- |
Kırınım: kırınıma uğramış demetlerin doğrultuları
|
3- |
Kırınım: kırınıma uğramış demetlerin şiddetleri
|
4- |
Deneysel yöntemler: Laue ve toz yöntemleri
|
5- |
Difraktometre ölçümleri
|
6- |
Tek Kristallerin yönlendirilmesi
|
7- |
Polikristal agregatların yapısı (kristal büyüklüğü, kristal mükemmelliği, kristal yönlendirilmesi)
|
8- |
Kristal yapı tayini (kübik kristallerin desenlerinin indislenmesi, vb)
|
9- |
Kübik olmayan kristallerin desenlerinin indislenmesi (analitik yöntem)
|
10- |
Hassas parametre ölçümleri
|
11- |
Gerilme ölçümleri: deneysel teknikler
|
12- |
?
|
13- |
?
|
14- |
?
|
15- |
|
16- |
|
17- |
|
18- |
|
19- |
|
20- |
|
1- |
X-Işınları Kristalografisinin temellerini öğretmek
|
2- |
X-Işınları Kırınımı ile yapılan deneysel metodları anlatmak
|
3- |
?
|
4- |
?
|
5- |
?
|
6- |
?
|
7- |
|
8- |
|
9- |
|
10- |
|
*Dersin program yeterliliklerine katkı seviyesi
|
1- |
Lisans programında edinilen birikime dayalı olarak, Gıda Mühendisliği bilgilerini uzmanlık düzeyinde geliştirmek ve derinleştirmek.
|
|
2- |
Bilimsel araştırma planlama, uygulama ve değerlendirme becerilerine sahip olmak.
|
|
3- |
Değişik disiplinlere ait bilgileri Gıda Mühendisliği alanında edindiği bilgilerle harmanlayabilmek.
|
|
4- |
Proses ve süreç tasarımlarında yeni ve uygulama alanı bulabilecek fikir geliştirme ve uygulayabilme becerisine sahip olmak.
|
|
5- |
Gıda teknolojisinde uygulanan son teknolojiler hakkında kapsamlı bilgiye sahip olmak.
|
|
6- |
Lisans seviyesinde ders verebilme yetisibe sahip olmak.
|
|
7- |
Bilişim teknolojisinden (sunum, yazım, istatistik ve grafik programları) etkin bir şekilde yararlanabilmek.
|
|
8- |
Alanı ile ilgili bir problemin çözümünde sorumluluk alabilecek yetkinliğe sahip olmak.
|
|
9- |
Bilimsel çalışmalarda eksik noktaları belirleyerek, çözüm noktasında izleyeceği yolun tayinini gerçekleştirebilecek altyapıya sahip olmak.
|
|
10- |
Uluslarası literatürü takip edebilecek terminolojiye hakim olmak.
|
|
11- |
|
|
12- |
|
|
13- |
|
|
14- |
|
|
15- |
|
|
16- |
|
|
17- |
|
|
18- |
|
|
19- |
|
|
20- |
|
|
21- |
|
|
22- |
|
|
23- |
|
|
24- |
|
|
25- |
|
|
26- |
|
|
27- |
|
|
28- |
|
|
29- |
|
|
30- |
|
|
31- |
|
|
32- |
|
|
33- |
|
|
34- |
|
|
35- |
|
|
36- |
|
|
37- |
|
|
38- |
|
|
39- |
|
|
40- |
|
|
41- |
|
|
42- |
|
|
43- |
|
|
44- |
|
|
45- |
|
|
Yıldızların sayısı 1’den (en az) 5’e (en fazla) kadar katkı seviyesini ifade eder |
Planlanan öğretim faaliyetleri, öğretme metodları ve AKTS iş yükü
|
|
Sayısı
|
Süresi (saat)
|
Sayı*Süre (saat)
|
Yüz yüze eğitim
|
14
|
3
|
42
|
Sınıf dışı ders çalışma süresi (ön çalışma, pekiştirme)
|
14
|
3
|
42
|
Ödevler
|
0
|
0
|
0
|
Sunum / Seminer hazırlama
|
0
|
0
|
0
|
Kısa sınavlar
|
0
|
0
|
0
|
Ara sınavlara hazırlık
|
1
|
40
|
40
|
Ara sınavlar
|
1
|
3
|
3
|
Proje (Yarıyıl ödevi)
|
0
|
0
|
0
|
Laboratuvar
|
0
|
0
|
0
|
Arazi çalışması
|
0
|
0
|
0
|
Yarıyıl sonu sınavına hazırlık
|
1
|
60
|
60
|
Yarıyıl sonu sınavı
|
1
|
3
|
3
|
Araştırma
|
0
|
0
|
0
|
Toplam iş yükü
|
|
|
190
|
AKTS
|
|
|
7.50
|
Değerlendirme yöntemleri ve kriterler
|
Yarıyıl içi değerlendirme
|
Sayısı
|
Katkı Yüzdesi
|
Ara sınav
|
1
|
40
|
Kısa sınav
|
0
|
0
|
Ödev
|
0
|
0
|
Yarıyıl içi toplam
|
|
40
|
Yarıyıl içi değerlendirmelerin başarıya katkı oranı
|
|
40
|
Yarıyıl sonu sınavının başarıya katkı oranı
|
|
60
|
Genel toplam
|
|
100
|
Önerilen veya zorunlu okuma materyalleri
|
Ders kitabı
|
1) X-Ray Diffraction, B. D. Cullity, Addison-Wesley Publishing Comp., Inc., 3. Baskı (1967). 2) Fundamentals of Crystallography, edited by c. Gizcovazzo, 1. Baskı (1992).
|
Yardımcı Kaynaklar
|
Crystallographic Instrumentation, L. A. Aslanov, G. V. Fetisov and J.A.K. Howard, OUP/International Union of Crystallography, 1. Baskı (1998).
|
|